标准|美国国家标准与技术研究院研发过冷微型温度计

【标准|美国国家标准与技术研究院研发过冷微型温度计】【美国国家标准与技术研究网站2020年11月17日报道】美国国家标准与技术研究院开发一款具有重大应用价值的微型温度计 , 例如可在超导量子计算机中监测芯片温度 。 该温度计可测量的温度低于1开尔文(零下272.15摄氏度) , 最低可测量50毫开尔文甚至可能5毫开尔文 。 相比于传统芯片设备中的低温温度计 , 该温度计体积更小、测量速度更快、使用更方便 。 该温度计尺寸仅为2.5×1.15毫米 , 封装于芯片中 , 可嵌入或粘附在另一个低温微波设备中测量温度 , 由涂有二氧化硅的超导铌谐振器组成 , 利用谐振器的固有频率与温度相关的原理进行测量 。 该温度计测量温度的时间大约为5毫秒(千分之一秒) , 而大多数传统电阻温度计测量时间约为十分之一秒 , 测量速度非常快 。 该温度计易于制造 , 工艺简单 , 可大规模生产 , 在一个3英寸(约75毫米)的硅片上可安装1200多个 。 (中国船舶工业综合技术经济研究院 郭晨曦 供稿)

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